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| 装置の原理 |
結晶にMoやCuの特性X線を照射すると，結晶の方位が回折条件を満たせば，Bragg回折が生じます。回折強度は結晶内の原子の配置， 電子密 度，原子の熱振動等により決まるので，回折像を３次元的に測定できれば，上記の諸量を求めることが可能となります。
| 操作方法と利用範囲 |
本装置では0.2mm程度の単結晶を４軸ゴニオメータに乗せ，４軸を計算機で制御しながら回折位置を求めることにより結晶の方位を決定し ます。一 旦方位が決まれば，全ての回折線強度を一つづつ与えられた条件で自動的に測定します。一回の測定には連続運転で１週間程度を要します。結晶性 物質の空間群 対称性，格子定数，結晶構造を調べる今日得られる最強最精密な装置です。本装置では結晶性物質に限らず非晶質物質の研究にも利用でき，特に蛋 白質を除く結 晶構造解析に威力を発揮します。
| 申し込み窓口 |
（管理責任者）奥寺 浩樹 理工研究域地球社会基盤学系 076-264-6525
| 申し込み及び利用の仕方 |
利用者は、所属部局へのエックス線使用申請をした上で、教育研究用エックス線安全取り扱い講習会を受講していることが前提。
本装置あるいは同等の装置の使用経験があること。利用する際には、装置の管理責任者に連絡すること。
利用可能な時間は、平日9:00〜17:00。装置設置場所は、自然科学２号館2B115号室。
| 使用料金 |
利用1時間につき375円。（１ヶ月単位で集計し、1時間未満は切り上げ）（紙代、トナー代などはこれに含める）