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| 装置の原理 |
STM：タングステン等の鋭い金属探針を物質表面にトンネル電流が流れるまで接近させ，電流を一定にすることにより，両者の距離を10〜20Åに
保って走査し，その凹凸をカンチレバーによって検出し，ナノメータスケールの表面構造の解析を行います。
AFM：STMのトンネル電流の代わりに，物質表面と探針との間に作用する反発力を一定に保ちながら表面を走査して原子像を観察することができます。
| 操作方法と利用範囲 |
本装置は大気圧中で観察可能な走査型プローブ顕微鏡で，ヘッドを交換することにより走査型トンネル顕微鏡（STM）と原子間力顕微鏡（AFM）の 両方の観察ができます。特に，AFMでの観察は導電性物質のみならず非導電性物質の表面観察も可能で，様々な物質に応用できます。測定はコンピュータ制御 によって行われます。また，解析・画像処理ソフトにより物質表面の３次元的構造をカラーで表示できる特徴があります。
| 申し込み窓口 |
奥寺 浩樹 理学部地球学科 076-264-6525
| 申し込み及び利用の仕方 |
利用の際は，未経験者は管理担当者ないしは熟練者の同伴のもとに観察をおこない，単独での利用を希望する場合は随時行う講習会を受けて下さい。利 用希望者は管理担当者に連絡し，使用予定を決定してもらったうえで利用できます。
| 使用料金 |
使用料は徴収していませんが，利用者の重大な過失により不具合を生じさせた場合には，修理費等の負担を請求することがあります。